赤外線膜厚計は測定対象物によって機種の選定や干渉フィルタ、検出器等の部品を選定する必要があります。そのためには豊富な知識と経験が必要であり、上記選定により、従来、測定が不可能だった測定対象物が測定可能にもなります。
赤外線膜厚計を構成している部品も日々の性能向上や新製品が提供されてきており、マイクロプロセッサの技術革新と共にさらに進歩するでしょう。最近は有機被膜だけでなく燐酸、シリコーン(SiO2)やアルミナ(Al2O3)などの無機酸化物も金属上のコートやフィルム上の蒸着膜も材質の組み合わせによっては測定可能となってきています。
今後、各ユーザーとの協力や情報交換を密着にすることにより、これらの装置の性能、機能を更に向上し、また目的にあった新たな機種を供給することができ、各分野での用途もさらに広がっていくでしょう。
1. | 赤外線の話 |
1-1. | 赤外線とは |
1-2. | 近赤外・中赤外分光の原理 |
1-3. | 近赤外・中赤外分光の特色 |
2. | 液体成分計の話 |
2-1. | 測定原理 |
2-2. | 詳細な測定原理 |
2-3. | 無機電解質濃度測定への適用 |
2-4. | プロセス測定への工夫 |
3. | 赤外線膜厚計の話 |
3-1. | 赤外線膜厚計とは |
3-2. | 種々の膜厚計 |
3-3. | 赤外線膜厚計の優位性 |
3-4. | 赤外線膜厚計の測定原理 |
3-5. | 主な用途と特長 |
3-6. | 適用範囲の拡大 |
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